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如何编写一个很好测试程序代码以达到较高的功能测试覆盖度?
答:应在芯片电路最初的设计及仿真阶段,就要规划好测试的方法,由于现今已经有很power的芯片设计和测试pattern工具,所以很快就能算出Test pattern coverage(测试覆盖率-电路logic的0/1toggle rate)是否合要求!至于测试MCU,应该是执行一些内建测试指令使所有电路都曾经toggle过即可,这和指令组合变化无关。

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