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电子元器件检验与测试栏目导航     技术支持 原创--学林电子&51单片机学习网 2009.10.26 修订 版权所有未经许可 禁止转载

 

批量数

重缺陷AQL1.0

轻缺陷AQL2.5

致命缺陷AQL0.01

1-8

全检      01

5       01

全检              0,1

9-15

13        01

5       01

全检              0,1

16-25

13        01

5       01

全检              0,1

26-50

13         01

5       01

全检              0,1

51-90

13        01

20      12

全检              0,1

91-150

13        01

20      12

全检              0,1

151-280

50        12

32      23

全检              0,1

281-500

50        12

50      34

全检              0,1

501-1200

80        23

80      56

1250              01 

1201-3200

125       34

125     78

1250              0,1

3201-10000

200       56

200     1011

1250              0,1

10001-35000

315       78

315     1415

1250              0,1

抽样方案使用方法:

该表格所使用的抽样方案使用于一般检查水平二级。其中:批量数指本批的报检总数。 重缺陷指严重影响样品功能的缺陷,即功能丧失。
轻缺陷指部严重影响样品使用的缺陷, 主要是指样品外观等方面的损失。严重缺陷则是样品缺陷在使用中可能造成人身伤害或者重大财产损失,一般情况下主要有高压测试等。该项在AQL =0.01时要求全检或抽样1250PCS 。在以上表格中,第一个数字代表为抽样数,第二个数字为不良品允收数,第三个数字为不良品据收数。

例如: 某批元件的进货量为100个, 那么严重缺陷抽样为13个,出现1个不合格, 则不合格。轻微缺陷抽样为20个,出现2个不合格, 则为不合格。致命缺陷抽样为100个( 全检) ,出现一个不合格, 则为不合格。 国标GB2828-87 正常检查一次抽样方案(一般检查水平二级)